Nghiên cứu sự tương quan giữa cấu trúc điện tử và khả năng ức chế ăn mòn của dây dẫn xuất pyridin
Dữ liệu và nguồn
-
150.PDF PDF
Tạp chí Phân tích Hóa, Lý và Sinh học, Tập 9, Số 4 - 2004
Thông tin khác
Miền | Giá trị |
---|---|
Nguồn | http://repository.vnu.edu.vn |
Tác giả | Phạm Văn Nhiêu, Vũ Phương Liên |
Người bảo dưỡng | Đại học Quốc gia Hà Nội |
Last Updated | 16-08-2018 07:49:26 |
Được tạo ra | 26-04-2018 02:30:36 |